§ 6. - Metody pobierania prób materiału siewnego i okres ich przechowywania oraz metody dokonywania oceny materiału siewnego.

Dziennik Ustaw

Dz.U.2007.55.363

Akt utracił moc
Wersja od: 30 marca 2007 r.
§  6.
1.
Dla plantacji nasiennych gatunków, dla których w wymaganiach szczegółowych czystość odmianowa jest określona:
1)
w procentach - stosuje się metodę oceny polowej według norm procentowych;
2)
w sztukach na jednostkę kwalifikacyjną - stosuje się metodę oceny polowej według norm powierzchni.
2.
Wielkości jednostek kwalifikacyjnych, o których mowa w § 4 ust. 5, wynoszą:
1)
dla plantacji nasiennych gatunków ocenianych metodą według norm procentowych - 20 m2;
2)
dla plantacji nasiennych wszystkich gatunków życic i festulolium, na których jest wytwarzany:
a)
materiał siewny kategorii elitarny - 50 m2,
b)
materiał siewny kategorii kwalifikowany - 10 m2;
3)
dla plantacji nasiennych wiechliny łąkowej, na których jest wytwarzany:
a)
materiał siewny kategorii elitarny - 20 m2,
b)
materiał siewny kategorii kwalifikowany - 10 m2;
4)
dla plantacji nasiennych pozostałych gatunków roślin rolniczych, z wyłączeniem ziemniaka, na których jest wytwarzany:
a)
materiał siewny kategorii elitarny - 30 m2,
b)
materiał siewny kategorii kwalifikowany - 10 m2;
5)
dla plantacji nasiennych, na których rośliny są uprawiane pojedynczo, w rzędach o dużej rozstawie (powyżej 30 cm) lub gniazdowo - 100 kolejnych roślin w rzędzie lub po 50 kolejnych roślin w dwóch sąsiednich rzędach;
6)
dla plantacji nasiennych roślin warzywnych:
a)
10 m2 lub
b)
jeżeli rośliny są uprawiane w rzędach o dużej rozstawie (powyżej 30 cm) - 100 kolejnych roślin w rzędzie lub po 50 kolejnych roślin w dwóch sąsiednich rzędach.
3.
Na wszystkich plantacjach nasiennych odmian mieszańcowych, z wyjątkiem żyta, jednostki kwalifikacyjne wyznacza się oddzielnie dla każdego składnika rodzicielskiego.
4.
Podczas ostatniej oceny stanu plantacji odmian mieszańcowych sprawdza się zniszczenie roślin zapylacza dla gatunków, dla których takie wymaganie zostało określone w wymaganiach szczegółowych.