Sprostowanie do rozporządzenia delegowanego Komisji (UE) 2015/2420 z dnia 12 października 2015 r. zmieniającego rozporządzenie Rady (WE) nr 428/2009 ustanawiające wspólnotowy system kontroli wywozu, transferu, pośrednictwa i tranzytu w odniesieniu do produktów podwójnego zastosowania
Dz.U.UE.L.2016.60.93
Akt jednorazowySprostowanie do rozporządzenia delegowanego Komisji (UE) 2015/2420 z dnia 12 października 2015 r. zmieniającego rozporządzenie Rady (WE) nr 428/2009 ustanawiające wspólnotowy system kontroli wywozu, transferu, pośrednictwa i tranzytu w odniesieniu do produktów podwójnego zastosowania
(Dz.U.UE L z dnia 5 marca 2016 r.)
Strona 58, pozycja 1C007:
zamiast: "Następujące proszki ceramiczne, "niekompozytowe" materiały ceramiczne, "materiały kompozytowe" na "matrycy" ceramicznej oraz materiały macierzyste:",
powinno być: "Następujące proszki ceramiczne, "niekompozytowe" materiały ceramiczne, materiały "kompozytowe" na "matrycy" ceramicznej oraz materiały macierzyste:".
Strona 88, pozycja 1C450.b.5:
zamiast: "N-dialkilo (metylo, etylo, propylo lub izopropylo) aminoetan-2-ole i odpowiednie protonowane sole, inne niż N,N-diizopropylo-(beta)-aminoetanol (96-80-0) i N,N-dietyloaminoetanol (100-37-8) wyszczególnione w pozycji 1C350;",
powinno być: "N,N-dialkilo (metylo, etylo, propylo lub izopropylo) aminoetan-2-ole i odpowiednie protonowane sole, inne niż N,N-diizopropylo-(beta)-aminoetanol (96-80-0) i N,N-dietyloaminoetanol (100-37-8) wyszczególnione w pozycji 1C350;".
Strona 105, pozycja 2B201 otrzymuje brzmienie:
"2B201 Obrabiarki i wszelkie ich zestawy poza wyszczególnionymi poniżej w pozycji 2B001, do skrawania lub cięcia metali, materiałów ceramicznych lub "kompozytowych", które stosownie do specyfikacji technicznej producenta mogą być wyposażone w urządzenia elektroniczne do jednoczesnego "sterowania kształtowego" w dwóch lub więcej osiach:
Uwaga techniczna:
Zamiast indywidualnych testów dla każdego modelu obrabiarki można stosować poziomy 'gwarantowanej dokładności pozycjonowania', ustalone zgodnie z poniższymi procedurami przy pomiarach wykonanych stosownie do normy ISO 230/2:1988 1 lub jej odpowiednika krajowego pod warunkiem dostarczenia ich organom krajowym i zaakceptowania ich przez nie. Określanie poziomu 'gwarantowanej dokładności pozycjonowania':
a. wybrać pięć egzemplarzy modelu maszyny, który ma być oceniany;
b. zmierzyć liniowe dokładności osi zgodnie z ISO 230/2 (1988 2 );
c. określić wartości dokładności (A) dla każdej osi każdej maszyny. Metodę obliczania wartości dokładności opisano w normie ISO 230/2:1988 3 1;
d. określić średnią wartość dokładności dla każdej osi. Średnia wartość staje się gwarantowaną 'dokładnością pozycjonowania' dla każdej osi modelu (Â x, Â y,...);
e. ponieważ pozycja 2B201 odnosi się do każdej osi liniowej, istnieje tyle wartości gwarantowanej 'dokładności pozycjonowania', ile jest osi liniowych;
f. jeśli dowolna oś obrabiarki nie objętej kontrolą przez pozycje 2B201.a., 2B201.b. lub 2B201.c. ma gwarantowaną 'dokładność pozycjonowania' wynoszącą 6 µm lub lepiej (mniej) w przypadku szlifierek oraz 8 µm lub lepiej (mniej) w przypadku frezarek i tokarek, zawsze zgodnie z normą ISO 230/2:1988 4 , od wytwórcy należy wymagać ponownego potwierdzania poziomu dokładności co osiemnaście miesięcy.
a. frezarki posiadające którąkolwiek z wymienionych poniżej cech:
1. dokładność pozycjonowania, z uwzględnieniem "wszystkich dostępnych kompensacji", równa 6 μm lub mniej (lepsza), zgodnie z ISO 230/2 (1988) 5 lub równoważną normą krajową, wzdłuż dowolnej osi liniowej;
2. dwie lub więcej konturowych osi obrotu; lub
3. pięć lub więcej osi, które można jednocześnie koordynować w celu "sterowania kształtowego";
Uwaga: Pozycja 2B201.a nie obejmuje kontrolą frezarek posiadających następujące cechy:
a. robocza długość osi x większa niż 2 m; oraz
b. ogólna dokładność pozycjonowania wzdłuż osi x większa (gorsza) niż 30 μm;
b. szlifierki posiadające którąkolwiek z wymienionych poniżej cech:
1. dokładność pozycjonowania, z uwzględnieniem "wszystkich dostępnych kompensacji", równa 4 μm lub mniej (lepsza), zgodnie z ISO 230/2 (1988) 6 lub równoważną normą krajową, wzdłuż dowolnej osi liniowej;
2. dwie lub więcej konturowych osi obrotu; lub
3. pięć lub więcej osi, które można jednocześnie koordynować w celu "sterowania kształtowego";
Uwaga: Pozycja 2B201.b nie obejmuje kontrolą następujących szlifierek:
a. szlifierek do zewnętrznego, wewnętrznego i zewnętrzno-wewnętrznego szlifowania na okrągło, posiadających wszystkie niżej wymienione cechy:
1. ograniczenie do maksymalnych wymiarów przedmiotu obrabianego do 150 mm średnicy zewnętrznej lub długości; oraz
2. osie ograniczone do x, z i c;
b. szlifierek współrzędnościowych nieposiadających osi z lub osi w przy ogólnej 'dokładności pozycjonowania' mniejszej (lepszej) niż 4 μm zgodnie z ISO 230/2:1988 lub równoważną normą krajową.
c. tokarek, które mają 'dokładności pozycjonowania' z uwzględnieniem "wszystkich dostępnych kompensacji" lepsze (mniejsze) niż 6 μm, zgodnie z normą ISO 230/2:1988, wzdłuż dowolnej osi liniowej (ogólna dokładność pozycjonowania), dla maszyn zdolnych do obrabiania średnic powyżej 35 mm;
Uwaga: Pozycja 2B201.c. nie obejmuje kontrolą tokarek (Swissturn), ograniczonych do obrabiania tylko prętów podawanych, jeśli maksymalna średnica pręta jest równa lub mniejsza niż 42 mm i w których nie istnieje możliwość mocowania uchwytami. Maszyny mogą mieć możliwość wiercenia lub frezowania części o średnicy mniejszej niż 42 mm.
Uwaga 1: Pozycja 2B201 nie obejmuje kontrolą obrabiarek do specjalnych zastosowań ograniczonych do wytwarzania dowolnych z następujących części:
a. kół zębatych;
b. wałów korbowych lub rozrządowych;
c. narzędzi lub noży do obrabiarek;
d. ślimaków do wytłaczarek;
Uwaga 2: Obrabiarki mogące wykonywać co najmniej dwie z trzech funkcji obejmujących: toczenie, frezowanie lub szlifowanie (np. tokarka z możliwością frezowania), podlegają ocenie na podstawie kryteriów dotyczących każdej stosownej pozycji 2B201.a., b. lub c."
Strona 133, pozycja 3A001.a.5.b.2:
zamiast: "rozdzielczość 12 bitów lub większa przy 'skorygowanej prędkości aktualizacji' równej lub większej niż 1 250 MSPS i spełniające którekolwiek z poniższych kryteriów:",
powinno być: "rozdzielczość 12 bitów lub większa przy 'skorygowanej prędkości aktualizacji' większej niż 1 250 MSPS i spełniające którekolwiek z poniższych kryteriów:".
Strona 185, pozycje 6A001-6A001.a.1 otrzymują brzmienie:
"6A001 Następujące systemy, urządzenia i części akustyczne:
a. następujące okrętowe systemy akustyczne, urządzenia lub specjalnie do nich zaprojektowane części składowe:
1. następujące systemy aktywne (nadajniki lub nadajniki-odbiorniki), urządzenia i specjalnie do nich zaprojektowane części składowe:
Uwaga: Pozycja 6A001.a.1 nie obejmuje kontrolą następujących urządzeń:
a. sond do pomiaru głębokości pracujących w pionie pod aparaturą, niemających możliwości przeszukiwania w zakresie szerszym niż ± 20°, których działanie jest ograniczone do pomiaru głębokości wody, odległości do zanurzonych lub zagrzebanych obiektów lub do wykrywania ławic ryb;
b. następujących pław lub staw akustycznych:
1. akustycznych pław lub staw ostrzegawczych;
2. sonarów impulsowych specjalnie zaprojektowanych do przemieszczenia się lub powrotu do położenia podwodnego.
a. następujące urządzenia do akustycznego badania dna morskiego:
1. urządzenia dla statków nawodnych zaprojektowane do sporządzania map topograficznych dna morskiego i spełniające wszystkie poniższe kryteria:
a. przeznaczenie do dokonywania pomiarów pod kątem większym niż 20° w stosunku do pionu;
b. przeznaczenie do pomiarów topografii dna morskiego położonego na głębokościach większych niż 600 m;
c. 'rozdzielczość sondowania' mniejsza niż 2; oraz
d. 'zwiększenie' dokładności określania głębokości poprzez kompensację w odniesieniu do wszystkich poniższych:
1. ruch czujnika akustycznego;
2. rozchodzenie się fali w wodzie w kierunku od czujnika do dna morskiego i z powrotem;
3. prędkość dźwięku przy czujniku;
Uwagi techniczne
1. 'Rozdzielczość sondowania' oznacza szerokość pola omiatania (w stopniach) podzieloną przez liczbę sondowań na jedno omiecenie.
2. 'Zwiększenie' obejmuje zdolność kompensowania z wykorzystaniem środków zewnętrznych.
2. podwodne urządzenia zaprojektowane do sporządzania map topograficznych dna morskiego i spełniające którekolwiek z poniższych kryteriów:
Uwaga techniczna:
Wartość ciśnienia czujnika akustycznego określa wartość głębokości urządzeń wymienionych w pozycji 6A001.a.1.a.2.
a. spełniające wszystkie z poniższych kryteriów:
1. zaprojektowany lub zmodyfikowany do pracy na głębokościach przekraczających 300 m; oraz
2. 'wskaźnik sondowania' większy niż 3 800 m/s; lub
Uwaga techniczna:
'Wskaźnik sondowania' jest iloczynem maksymalnej prędkości (w m/s), z jaką może pracować czujnik i maksymalnej liczby sondowań na jedno omiecenie, przy założeniu 100 % pokrycia. W przypadku systemów, które prowadzą sondowanie w dwóch kierunkach (sonary 3D) należy zastosować maksymalny wskaźnik sondowania, bez względu na jego kierunek.
b. urządzenia zaprojektowane do sporządzania map topograficznych, niewymienione w pozycji 6A001.a.1.a.2.a., spełniające wszystkie poniższe kryteria:
1. zaprojektowany lub zmodyfikowany do pracy na głębokościach przekraczających 100 m;
2. przeznaczenie do dokonywania pomiarów pod kątem większym niż 20° w stosunku do pionu;
3. spełniający którekolwiek z poniższych kryteriów:
a. częstotliwość robocza poniżej 350 kHz; lub
b. zaprojektowane do dokonywania pomiarów topografii dna morskiego w zasięgu przekraczającym 200 m przy pomocy czujnika akustycznego; oraz
4. 'zwiększenie' dokładności określania głębokości poprzez kompensację w odniesieniu do wszystkich poniższych:
a. ruch czujnika akustycznego;
b. rozchodzenie się fali w wodzie w kierunku od czujnika do dna morskiego i z powrotem; oraz
c. prędkość dźwięku przy czujniku;
3. boczny sonar skanujący (SSS) lub sonar z syntezą apertury (SAS) zaprojektowany do obrazowania dna morskiego i spełniające wszystkie poniższe kryteria:
a. zaprojektowany lub zmodyfikowany do pracy na głębokościach przekraczających 500 m;
b. 'wskaźnik pokrycia obszaru' większy niż 570 m2/s podczas pracy przy maksymalnym zasięgu, z jakim może pracować, z 'rozdzielczością wzdłużną' mniejszą niż 15 cm; oraz
c. 'rozdzielczość poprzeczna' mniejsza niż 15 cm;
Uwagi techniczne
1. 'Wskaźnik pokrycia powierzchni' (w m2/s) stanowi dwukrotność iloczynu zakresu sonaru (w m) oraz maksymalnej prędkości (w m/s), z jaką może pracować czujnik przy tym zakresie.
2. 'Rozdzielczość wzdłużna' (w cm) - wyłącznie w odniesieniu do SSS, jest iloczynem azymutowej (poziomej) szerokości wiązki (w stopniach), zakresu sonaru (w m) i liczby 0,873.
3. 'Rozdzielczość poprzeczna' (w cm) jest ilorazem liczby 75 i szerokości pasma sygnału (w kHz).
b. Systemy lub matryce nadawcze lub odbiorcze, zaprojektowane do wykrywania lub lokalizacji obiektów, spełniające którekolwiek z poniższych kryteriów:
1. częstotliwość nośna poniżej 10 kHz;
2. poziom ciśnienia akustycznego powyżej 224 dB (poziom odniesienia 1 μΡa na 1 m) w odniesieniu do urządzeń z częstotliwością roboczą w paśmie od 10 kHz do 24 kHz włącznie;
3. poziom ciśnienia akustycznego powyżej 235 dB (poziom odniesienia 1 μΡa na 1 m) w odniesieniu do urządzeń z częstotliwością roboczą w paśmie od 24 kHz do 30 kHz;
4. kształtujące wiązki o kącie rozproszenia poniżej 1° względem dowolnej osi i posiadające częstotliwość roboczą poniżej 100 kHz;
5. umożliwiające jednoznaczny pomiar odległości do obiektów w zakresie powyżej 5 120 m; lub
6. skonstruowane w ten sposób, że w normalnych warunkach pracy są wytrzymałe na ciśnienia na głębokości większej niż 1 000 m i są zaopatrzone w przetworniki spełniające którekolwiek z poniższych kryteriów:
a. z dynamiczną kompensacją ciśnienia; lub
b. w których elementem przetwarzającym nie jest cyrkonian/tytanian ołowiu;
c. reflektory akustyczne, łącznie z przetwornikami, wyposażone w elementy piezoelektryczne, magnetostrykcyjne, elektrostrykcyjne, elektrodynamiczne lub hydrauliczne, działające indywidualnie lub w odpowiedniej kombinacji zespołowej i spełniające którekolwiek z poniższych kryteriów:
Uwaga 1: Poziom kontroli reflektorów akustycznych, łącznie z przetwornikami, specjalnie zaprojektowanych do innych urządzeń niewymienionych w pozycji 6A001, wynika z poziomu kontroli tych innych urządzeń.
Uwaga 2: Pozycja 6A001.a.1.c nie obejmuje kontrolą elektronicznych źródeł kierujących dźwięk tylko w pionie ani źródeł mechanicznych (np. pistolety powietrzne lub parowe) lub chemicznych (np. materiały wybuchowe).
Uwaga 3: Elementy piezoelektryczne wymienione w pozycji 6A001.a.1.c. obejmują elementy wykonane z pojedynczych kryształów piezoelektrycznych niobianu ołowiu i magnezu/tytanianu ołowiu (Pb (Mg1/3Nb2/3)O3-PbTiO3, lub PMN-PT) wytworzonych z roztworu stałego lub pojedynczych kryształów piezoelektrycznych niobianu ołowiu i indu/niobianu ołowiu i magnezu/tytanianu ołowiu (Pb(In1/2Nb1/2)O3-Pb(Mg1/3Nb2/3)O3-PbTiO3, lub PIN-PMN-PT) wytworzonych z roztworu stałego.
1. działające w zakresie częstotliwości poniżej 10 kHz i spełniające którekolwiek z poniższych kryteriów:
a. nie są zaprojektowane do ciągłej pracy przez 100 % cyklu roboczego i mają promieniowany 'poziom mocy źródła w polu swobodnym (SLRMS)' przekraczający (10log(f) + 169,77) dB (odniesienie 1 µPa przy 1 m), gdzie f oznacza częstotliwość w hercach maksymalnej odpowiedzi na pobudzenie napięciowe (TVR) poniżej 10kHz; lub
b. są zaprojektowane do ciągłej pracy przez 100 % cyklu roboczego i mają stale promieniowany 'poziom mocy źródła w polu swobodnym (SLRMS)' przez 100 % cyklu roboczego przekraczający (10log(f) + 159,77) dB (odniesienie 1 µPa przy 1 m), gdzie f oznacza częstotliwość w hercach maksymalnej odpowiedzi na pobudzenie napięciowe (TVR) poniżej 10kHz; lub
Uwaga techniczna:
'Poziom mocy źródła w polu swobodnym (SLRMS)' jest określany wzdłuż osi maksymalnej odpowiedzi i w części pola w dużej odległości od źródła promieniowania projektora dźwiękowego. Może on zostać obliczony na podstawie odpowiedzi na pobudzenie napięciowe przy zastosowaniu następującego równania: SLRMS = (TVR + 20log VRMS) dB (ref 1µPa przy 1 m), gdzie SLRMS oznacza poziom mocy źródła, TVR oznacza odpowiedź na pobudzenie napięciowe, a VRMS oznacza napięcie sterowania projektora.
2. nieużywane;
3. tłumienie pasma bocznego częstotliwości powyżej 22 dB;
d. systemy akustyczne i urządzenia do określania położenia statków nawodnych lub pojazdów podwodnych spełniające wszystkie poniższe kryteria oraz elementy zaprojektowane specjalnie do nich:
1. zasięg wykrywania powyżej 1 000 m; oraz
2. wyznaczanie położenia z dokładnością poniżej 10 m (wartość średnia kwadratowa) w przypadku pomiaru w zasięgu do 1 000 m;
Uwaga: Pozycja 6A001.a.1.d obejmuje:
a. urządzenia, w których zastosowano koherentne "przetwarzanie sygnałów" pomiędzy dwiema lub większą liczbą boi kierunkowych a hydrofonem na statku nawodnym lub w pojeździe podwodnym;
b. urządzenia mające możliwość automatycznego korygowania błędów prędkości rozchodzenia się dźwięku w celu obliczenia położenia obiektu.
e. aktywne pojedyncze sonary, specjalnie zaprojektowane lub zmodyfikowane w celu wykrywania, ustalania położenia i automatycznej klasyfikacji pływaków lub nurków, spełniające wszystkie poniższe kryteria oraz specjalnie do nich zaprojektowane nadawcze i odbiorcze akustyczne zestawy matrycowe:
1. zasięg wykrywania powyżej 530 m;
2. wyznaczanie położenia z dokładnością poniżej 15 m (wartość średnia kwadratowa) w przypadku pomiaru w zasięgu do 530 m; oraz
3. szerokość pasma przekazywanego impulsu powyżej 3 kHz;
N.B:. Systemy wykrywania nurków specjalnie zaprojektowane lub zmodyfikowane do zastosowań wojskowych - zob. wykaz uzbrojenia.
Uwaga: W przypadku pozycji 6A001.a.1.e, jeśli określono wiele zasięgów wykrywania w zależności od środowiska, zastosowanie ma największy zasięg."
Strona 193, pozycja 6A002.a.2.a.2.a:
zamiast: ""matryce detektorowe płaszczyzny ogniskowej" "klasy kosmicznej" mające więcej niż 2 048 elementów na zespół i reakcję szczytową w paśmie fal o długości powyżej 300 nm, ale nieprzekraczającej 900 nm;",
powinno być: "elektrody mikrokanalikowej z otworkami w odstępach (odległość pomiędzy środkami otworków) 12 μm lub mniejszych; lub".
Strona 256, pozycja 9A004 otrzymuje brzmienie:
"9A004 Następujące kosmiczne pojazdy nośne, "statek kosmiczny", "moduły ładunkowe statku kosmicznego", "ładunki użyteczne statku kosmicznego", systemy pokładowe lub wyposażenie "statku kosmicznego", a także wyposażenie naziemne:
N.B.: ZOB. TAKŻE POZYCJA 9A104.
a. kosmiczne pojazdy nośne;
b. "statek kosmiczny";
c. "moduły ładunkowe statku kosmicznego";
d. "ładunki użyteczne statku kosmicznego" obejmujące elementy określone w pozycjach 3A001.b.1.a.4., 3A002.g., 5A001.a.1., 5A001.b.3., 5A002.a.5., 5A002.a.9., 6A002.a.1., 6A002.a.2., 6A002.b., 6A002.d., 6A003.b., 6A004.c., 6A004.e., 6A008.d., 6A008.e., 6A008.k., 6A008.l. lub 9A010.c.;
e. systemy pokładowe lub wyposażenie specjalnie zaprojektowane do "statku kosmicznego" i posiadające którąkolwiek z następujących funkcji:
1. 'obsługa danych sterowania i telemetrii';
Uwaga: Do celów pozycji 9A004.e.1. 'obsługa danych sterowania i telemetrii' obejmuje zarządzanie, przechowywanie i przetwarzanie danych modułu ładunkowego.
2. 'obsługa danych ładunku użytecznego'; lub
Uwaga: Do celów pozycji 9A004.e.2. 'obsługa danych ładunku użytecznego' obejmuje zarządzanie, przechowywanie i przetwarzanie danych ładunku użytecznego.
3. 'sterowanie położeniem i kierunkiem orbitowania';
Uwaga: Do celów pozycji 9A004.e.3. 'sterowanie położeniem i kierunkiem orbitowania' obejmuje wykrywanie i wzbudzanie w celu określenia położenia i kierunku "statku kosmicznego" oraz sterowania nimi.
N.B.: W przypadku urządzeń zaprojektowanych specjalnie do zastosowań wojskowych zob. wykaz uzbrojenia.
f. następujące wyposażenie naziemne, specjalnie zaprojektowane do "statku kosmicznego":
1. wyposażenie telemetryczne i do zdalnego sterowania;
2. symulatory."
Strona 269, pozycja 9C110:
zamiast: ""wytrzymałość właściwą na rozciąganie" większą niż 7,62 × 104 7 (...)",
powinno być: ""wytrzymałość właściwą na rozciąganie" większą niż 7,62 × 10 8 (...)".